측정시스템 분석(생산현장에서 적용하는)
현장의 기본 측정시스템 분석의 모든 것
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현장의 기본인 측정시스템 분석을 낱낱이 공개!
한국표준협회 전문위원인 이태곤이 공개하는 ‘현장의 기본’ 측정시스템 분석의 모든 것『측정시스템 분석』. 저자는 직접 현장에서 근무하면서 어떻게 측정시스템 분석이 이루어지는지 그 과정 자체를 알면 좋겠다고 생각했다. 그래서 측정시스템 분석 기법과 관련하여 사용되는 통계적 기법을 설명하고, 엑셀로 측정시스템 분석을 실제로 실행해볼 수 있도록 이론과 예제를 적절히 활용하여 원고를 구성했다. 단순히 소프트웨어 사용법을 숙지하고 기계적으로 일하는 것이 아니라 그것을 움직이는 기본적인 구조와 방법을 파악하면 도출된 결과를 이해하고 적용하는 데 더 많은 도움을 받을 수 있다.
한국표준협회 전문위원인 이태곤이 공개하는 ‘현장의 기본’ 측정시스템 분석의 모든 것『측정시스템 분석』. 저자는 직접 현장에서 근무하면서 어떻게 측정시스템 분석이 이루어지는지 그 과정 자체를 알면 좋겠다고 생각했다. 그래서 측정시스템 분석 기법과 관련하여 사용되는 통계적 기법을 설명하고, 엑셀로 측정시스템 분석을 실제로 실행해볼 수 있도록 이론과 예제를 적절히 활용하여 원고를 구성했다. 단순히 소프트웨어 사용법을 숙지하고 기계적으로 일하는 것이 아니라 그것을 움직이는 기본적인 구조와 방법을 파악하면 도출된 결과를 이해하고 적용하는 데 더 많은 도움을 받을 수 있다.
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출판사 리뷰
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한국표준협회 전문위원인 이태곤이 공개하는
'현장의 기본' 측정시스템 분석의 모든 것!
공정관리의 기본이자 불량품과 완제품을 가려내는 측정시스템
아무리 시스템이 좋아도 분석과 해석이 없으면 고철에 불과하다!
측정시스템 분석은 공정을 이해하기 위한 가장 근본적인 도구로, 공정을 정확하게 이해하기 위해서는 측정시스템의 변동을 이해하고 파악해야 한다. 그러나 측정시스템 분석은 관련한 통계 소프트웨어의 사용법 위주로 알려져 있고, 시스템을 구성하는 기본인 접근 방법에 대해 전문적으로 다루는 정보는 그렇게 많지 않다.
저자는 직접 현장에서 근무하면서 어떻게 측정시스템 분석이 이루어지는지 그 과정 자체를 알면 좋겠다고 생각했다. 그래서 측정시스템 분석 기법과 관련하여 사용되는 통계적 기법을 설명하고, 엑셀로 측정시스템 분석을 실제로 실행해볼 수 있도록 이론과 예제를 적절히 활용하여 원고를 구성했다.
단순히 소프트웨어 사용법을 숙지하고 기계적으로 일하는 것이 아니라 그것을 움직이는 기본적인 구조와 방법을 파악하면 도출된 결과를 이해하고 적용하는 데 더 많은 도움을 받을 수 있다. 이 책은 측정시스템 분석에 대한 이해를 획기적으로 넓히고 품질개선에도 크게 이바지할 수 있다는 점에서 관련 업무를 한 단계 업그레이드 하는 디딤돌이라 할 만하다.
'현장의 기본' 측정시스템 분석의 모든 것!
공정관리의 기본이자 불량품과 완제품을 가려내는 측정시스템
아무리 시스템이 좋아도 분석과 해석이 없으면 고철에 불과하다!
측정시스템 분석은 공정을 이해하기 위한 가장 근본적인 도구로, 공정을 정확하게 이해하기 위해서는 측정시스템의 변동을 이해하고 파악해야 한다. 그러나 측정시스템 분석은 관련한 통계 소프트웨어의 사용법 위주로 알려져 있고, 시스템을 구성하는 기본인 접근 방법에 대해 전문적으로 다루는 정보는 그렇게 많지 않다.
저자는 직접 현장에서 근무하면서 어떻게 측정시스템 분석이 이루어지는지 그 과정 자체를 알면 좋겠다고 생각했다. 그래서 측정시스템 분석 기법과 관련하여 사용되는 통계적 기법을 설명하고, 엑셀로 측정시스템 분석을 실제로 실행해볼 수 있도록 이론과 예제를 적절히 활용하여 원고를 구성했다.
단순히 소프트웨어 사용법을 숙지하고 기계적으로 일하는 것이 아니라 그것을 움직이는 기본적인 구조와 방법을 파악하면 도출된 결과를 이해하고 적용하는 데 더 많은 도움을 받을 수 있다. 이 책은 측정시스템 분석에 대한 이해를 획기적으로 넓히고 품질개선에도 크게 이바지할 수 있다는 점에서 관련 업무를 한 단계 업그레이드 하는 디딤돌이라 할 만하다.
목차
목차
저자 서문 __4
시작하며 __6
1장 평균, 범위, 분산 및 표준편차 11
1. 평균 ···················································································14
2. 범위 ···················································································14
3. 분산 ···················································································15
4. 표준편차 ············································································15
2장 측정시스템 분석의 개요 21
1. 개요 ···················································································22
2. 측정 불확도 ·······································································23
3. 제품의 적합/부적합 판정 ···················································26
4. 공정의 통계적 관리상태의 판단 ········································29
5. 게이지의 판별력 ································································34
6. 측정 오차 ···········································································35
3장 계량치 데이터에 대한 측정시스템 분석 39
1. 안정성 연구 ·······································································40
2. 편의 연구 ···········································································49
3. 선형성 연구 ·······································································58
4. Gage R&R 연구 ·································································72
4장 계수치 데이터에 대한 측정시스템 분석 117
1. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―간이평가법 ·············119
2. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―신호탐지접근방법 ···123
3. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―가설 검정 방법 ········133
부 록 147
1. 표준정규분포표 ·······························································148
2. t 분포표 ·······························································152
3. F 분포표 ·······························································154
참고문헌 __159
시작하며 __6
1장 평균, 범위, 분산 및 표준편차 11
1. 평균 ···················································································14
2. 범위 ···················································································14
3. 분산 ···················································································15
4. 표준편차 ············································································15
2장 측정시스템 분석의 개요 21
1. 개요 ···················································································22
2. 측정 불확도 ·······································································23
3. 제품의 적합/부적합 판정 ···················································26
4. 공정의 통계적 관리상태의 판단 ········································29
5. 게이지의 판별력 ································································34
6. 측정 오차 ···········································································35
3장 계량치 데이터에 대한 측정시스템 분석 39
1. 안정성 연구 ·······································································40
2. 편의 연구 ···········································································49
3. 선형성 연구 ·······································································58
4. Gage R&R 연구 ·································································72
4장 계수치 데이터에 대한 측정시스템 분석 117
1. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―간이평가법 ·············119
2. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―신호탐지접근방법 ···123
3. 계수치 데이터에 대한 Gage R&R―가설 검정 방법 ········133
부 록 147
1. 표준정규분포표 ·······························································148
2. t 분포표 ·······························································152
3. F 분포표 ·······························································154
참고문헌 __159
저자
저자
이태곤
저자 이태곤은
중앙대학교 기계공학과
아주대학교 경영대학원 경영일반MBA
셰플러 코리아 근무
삼성 SDI 근무
ISO 9001 인증 심사원
한국표준협회 전문위원
중앙대학교 기계공학과
아주대학교 경영대학원 경영일반MBA
셰플러 코리아 근무
삼성 SDI 근무
ISO 9001 인증 심사원
한국표준협회 전문위원
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