개발자를 위한 시프트 레프트 테스트

소프트웨어 품질은 조기에 결정된다
버그와 야근을 줄이기 위한 '근거 있는' 효율적 테스트 기법 총정리

개발 과정에서 테스트를 뒤로 미루지 않고 최대한 조기에 수행하자는 '시프트-레프트' 접근법이 있다. 현실과 동떨어진 이상론이라고 생각하는 사람이 많겠지만, 일본에서 소프트웨어 테스트 분야의 일인자로 평가받는 다카하시 주이치는 이 책을 통해 시프트-레프트를 개발 현장에서 실천할 수 있음을 보여준다.

저자는 품질 컨설턴트로서 오랜 세월 축적해온 경험을 바탕으로 테스트 기초 지식부터 경곗값 테스트, 단위 테스트, 시스템 테스트, 리팩터링, 정량화를 통한 애자일 개발 시의 품질 보증, 테스트 효율화 및 자동화까지 오늘날 현장에서 요구되는 테스트의 모든 것을 명료하게 정리했다. 경험뿐만 아니라 각종 연구 결과를 근거로 제시함으로써 객관성도 높였다. 실제 사례를 대화 형태로 재구성해 직관적인 이해를 돕게 배려한 점도 책의 미덕이다.

현장에서 실천할 수 있는 지식에 목말랐던 개발자들에게 단순히 이상론을 설파하는 게 아니라 실천할 방안을 알려준다는 점이 책의 가장 큰 의의가 아닐까 싶다. 일례로 단위 테스트만 해도 못 들어본 개발자는 없겠지만 현실적인 이유로 실천하는 개발자는 많지 않다. 저자는 단위 테스트의 '본질'을 설명하고 효율화 기법을 제시함으로써 실천력을 높여준다. 이 책으로 버그와 야근을 줄이기 위한 개발자 테스트 프랙티스를 내 것으로 만들어보자.

주요 내용
■ 조기 품질을 향상하는 시프트-레프트에 대한 이해
■ 경곗값 테스트 등 개발자 테스트 기법의 기초
■ 단위 테스트의 본질, 그리고 효율화를 통한 실천
■ 시스템 테스트 자동화에서의 최악과 최선의 방식
■ 돌연변이 테스트 등 정량화를 통한 품질 보증

옮긴이 머리말 xiii
베타리더 후기 xv
머리말 xviii
이 책에 대하여 xxii

CHAPTER 1 테스트 시작하기 1
1.1 시프트-레프트의 개요 3
1.2 애자일에서의 품질 7
__1.2.1 애자일 테스트란 8

CHAPTER 2 시프트-레프트 테스트 13
2.1 시프트-레프트 모델 16
2.2 시프트-레프트 테스트의 특징 17
__2.2.1 시프트-레프트와 출시 후 품질 18
__2.2.2 시프트-레프트와 남은 버그의 리스크 20
2.3 마치며 23

CHAPTER 3 개발자 테스트의 기본 중 기본 25
3.1 개발자가 반드시 알아야 할 테스트 기법 29
__3.1.1 경곗값 테스트 30
__3.1.2 상태 전이 테스트 33

CHAPTER 4 코드 기반 단위 테스트 37
4.1 코드 기반 단위 테스트 40
4.2 명령 커버리지(C0) 41
4.3 조건 커버리지(C1) 43
4.4 자주 발생하는 단위 테스트 오류 44
4.5 코드 기반 단위 테스트 작성법 45
__4.5.1 일반적인 테스트 방법(TDD) 46
4.6 커버리지 비율: 코드 기반 단위 테스트의 성패를 측정 50

CHAPTER 5 단위 테스트 효율화: 쉬운 단위 테스트 55
5.1 코드 복잡도 60
5.2 단위 테스트의 대상 62
__5.2.1 단위 테스트할 범위를 선정 64
__5.2.2 독자적인 방법: 파일을 2개로 분리 66
__5.2.3 명확한 장점 68

CHAPTER 6 기능 단위별 단위 테스트 75
6.1 개발자가 확인할 단위 기능 테스트 77
__6.1.1 정렬 기능의 단위 테스트 78
6.2 블랙박스 테스트와 화이트박스 테스트 83

CHAPTER 7 리팩터링 87
7.1 단위 테스트가 어려운 복잡한 코드 90
7.2 파일 코드 리팩터링 92
7.3 큰 클래스의 리팩터링 93
__7.3.1 CK 지표 93
7.4 복잡도를 낮추는 리팩터링 98
7.5 출구는 하나 100
7.6 MVC 분리 101

CHAPTER 8 코드 리뷰 107
8.1 코드 리뷰란 109
8.2 페어 프로그래밍 113

CHAPTER 9 통합 테스트 119
9.1 통합 테스트 패턴 121
__9.1.1 통합 테스트 중시 설계 122
9.2 API 테스트와 API 버그 밀도에 관한 사고방식 124
9.3 카오스 엔지니어링 126
__9.3.1 카오스 엔지니어링과 품질 및 생산성 131

CHAPTER 10 시스템 테스트의 자동화 135
10.1 최악의 시스템 테스트 139
10.2 키워드 주도 자동 테스트 142
10.3 망상적 자동화 144

CHAPTER 11 탐색적 테스트 147

CHAPTER 12 테스트 전체 설계 153
12.1 단위 테스트 없이 피폐해지는 조직 156

CHAPTER 13 애자일 및 시프트-레프트 지표 159
13.1 돌연변이 테스트 162
__13.1.1 돌연변이 테스트의 사고방식 164
__13.1.2 변이의 내용 165
__13.1.3 돌연변이 테스트의 문제점 172
__13.1.4 돌연변이 커버리지 비율이라는 사고방식 174
13.2 사용자 스토리와 신뢰성 지표 175
__13.2.1 운영 프로파일 176
13.3 신뢰도 성장 곡선 지표 177

CHAPTER 14 애자일에서의 요구사항 사양 183
14.1 사용자 스토리의 장점 189

CHAPTER 15 개발자 테스트의 실제 샘플 191
15.1 단위 테스트 194
__15.1.1 간단한 애플리케이션 작성 195
__15.1.2 단위 테스트 생성 197
15.2 코드 커버리지 측정 202
__15.2.1 코드 커버리지 도구 준비 202
__15.2.2 가장 간단한 커버리지(명령 커버리지) 203
__15.2.3 조건 커버리지 205

에필로그 208
참고 문헌 211
찾아보기 218

다카하시 주이치 高橋 ?一
정보공학 박사. 플로리다 공과대학교 대학원에서 켐 케이너(Cem Kaner) 박사와 제임스 휘태커(James Whittaker) 박사를 사사했고, 히로시마 시립 대학에서 소프트웨어 품질 연구로 박사 학위를 취득했다. 마이크로소프트 본사 및 일본 SAP에서 소프트웨어 테스트 업무에 종사했으며, 소니 소프트웨어 품질 담당 부장을 거쳐, 현재 AGEST 집행임원 CTSO 및 디지털하트홀딩스 CTSO를 역임하고 있다. 저서로 《지식 제로부터 배우는 소프트웨어 테스트》, 《현장 업무가 척척 진행되는 소프트웨어 테스트 기법》 등이 있다.